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高速ADC的動態(tài)性能參數(shù)和基于DSP技術(shù)的測試方法研究

出處:電子設(shè)計應(yīng)用 發(fā)布于:2020-08-03 14:04:39

  高速ADC是信號處理機的不可欠缺的組成部分,其性能的好壞對信號處理系統(tǒng)的整體性能也至關(guān)重要。通常ADC的技術(shù)參數(shù)是由生產(chǎn)廠商提供,可作為設(shè)計的重要依據(jù),但是在電路板上形成的ADC模塊的性能如何,還與ADC的周邊電路或輸入信號密切相關(guān),比如參考電壓源、取樣時鐘、輸入運算放大器以及電源,地線和信號線上的干擾等。因此有必要在線評估高速ADC模塊的動態(tài)性能,分析其對信號處理機系統(tǒng)性能的影響。本文介紹了一種在信號處理機實際設(shè)備上在線評估高速ADC模塊的動態(tài)性能的的方法。該方法利用信號處理機本身的數(shù)據(jù)采集能力,通過在模擬輸入端增加標準測試信號,經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換后,由信號處理機的DSP讀入轉(zhuǎn)換結(jié)果,通過DSP仿真系統(tǒng)將數(shù)據(jù)讀入PC機,然后利用MATLAB軟件對數(shù)據(jù)進行頻譜分析,  終計算出SNR,SENAD等幾項動態(tài)參數(shù)。本文還給出了具體測試結(jié)果及其分析,并對高速ADC模塊設(shè)計給出了一些意見。

  一、高速ADC的動態(tài)性能參數(shù)

  評估ADC動態(tài)性能的主要參數(shù)定義如下:

  1、信噪比(dB)

  其中Asignal為滿幅度正弦模擬輸入信號的均方根值,Anoise為所有噪聲源之和的均方根。

  2、信噪失真比(SINAD)

  其中AHarmonic為各次諧波(除直流外)的頻率分量的均方根之和。

  3、有效比特位數(shù)(ENOB)

  其中N是轉(zhuǎn)換電路的量化比特位數(shù),A測量誤差下為測量噪聲平均值,A測量誤差為量化誤差平均值。

  4、總諧波失真其中,AF_IN為輸入信號基波的均方根值,AHD_2下至AHD_N為采樣所得信號頻域中2次到N次諧波分量的均方根值。

  5、無雜散動態(tài)范圍其中,AF_IN為輸入信號基波分量的均方根值,AHD_MAX為采樣波形頻譜中  失真諧波分量或  雜散信號的均方根值。

  通過這些參數(shù)的定義,可以看出高速ADC電路的大部分動態(tài)參數(shù)能在頻域上表現(xiàn)出來;所以對高速ADC電路進行頻域的測試可以獲得相應(yīng)的動態(tài)性能參數(shù)。

  二、傳統(tǒng)的測試方法

  傳統(tǒng)測試中,利用一個  比被測模數(shù)轉(zhuǎn)換電路  高2位以上的DAC產(chǎn)生一個單頻正弦波作為被測模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的測試信號,在被測電路的后端也接一個DAC將波形恢復(fù)。如圖1。

  

  這種測試結(jié)構(gòu)簡單,直觀。但是在工程實踐中為了評估模數(shù)電路必須增加一塊DAC電路,會與實際模塊連接困難和引入DAC的誤差。因此在線評估不好采用。

  三、基于DSP技術(shù)的測試方法

  利用DSP技術(shù)可構(gòu)成簡便且準確的測試結(jié)構(gòu),在ADC電路的后端利用數(shù)字信號處理器將輸出數(shù)據(jù)采集保存起來,然后利用DSP仿真設(shè)備的JTAG接口將數(shù)據(jù)傳送到PC機中,利用Matlab軟件進行相關(guān)頻域處理,以獲得高速模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的實際轉(zhuǎn)換特性參數(shù)。結(jié)構(gòu)如圖2所示。

  在這里用基于DSP的頻域分析工具替代了模擬的測試儀表,可以提供更高  及可重復(fù)觀察的測試結(jié)果。將數(shù)據(jù)采集到PC機中后,在Matlab這一平臺中將時域的離散信號波形通過DFT(FFT)算法轉(zhuǎn)換到頻域。在頻域中根據(jù)定義求出相關(guān)的動態(tài)性能參數(shù)。在輸入信號沒有失真的理想情況下,輸入模擬量為正弦波時,輸出頻譜應(yīng)為頻率等于輸入頻率的沖激函數(shù)圖形。事實上,ADC的量化誤差,轉(zhuǎn)換器內(nèi)部各種噪聲,甚至包括測試系統(tǒng)噪聲,都會在頻譜圖上噪聲背景中體現(xiàn)出來?;贔FT信號分析的基本函數(shù)就是FFT本身和功率譜。FFT 算法中假設(shè)離散時間序列可以  地在整個時域進行周期延拓,所有包含該離散時間序列的信號為周期函數(shù),周期與時間序列的長度相關(guān)。然而如果時間序列的長度不是信號周期的整數(shù)倍,即,就會發(fā)生頻譜泄漏。這里是輸入信號頻率;Fsample是采樣頻率;Nwndows窗函數(shù)長度;Nrecord采樣信號數(shù)據(jù)長度。在測試中一般選用采用漢寧(Hanning)窗函數(shù),以減少頻譜泄漏。

  求出采樣輸出信號的頻譜后,要得到相關(guān)測試參數(shù)值還得確定信號基頻及各次諧波的位置。下面給出頻率分量及其鏡像的關(guān)系如圖3所示。設(shè)Fo為位于奈奎斯特區(qū)間(DC~Fs/2)的一個頻率。又令Fk為頻帶中Fo的鏡像,又稱Fo為的第k次鏡像。

  圖3 頻率分量及其鏡像分量關(guān)系示意圖

  所有鏡像間的關(guān)系可如下表示:

  從上面的關(guān)系可看出,對于奇偶次鏡像分量而言,都能在奈奎斯特區(qū)間內(nèi)找到它們對應(yīng)的頻率分量,也就是說對于任意的超出奈奎斯特區(qū)間的諧波分量都可以在奈奎斯特區(qū)間內(nèi)找到其鏡像分量。如果,諧波位于奈奎斯特區(qū)間內(nèi),可直接計算得到諧波位置;要是諧波超出奈奎斯特區(qū)間,則要估計上面的鏡像方法來獲得諧波的數(shù)據(jù)。

  四、基于信號處理機的ADC模塊測試

  我們對信號處理機的電路板的高速ADC模塊進行了在線測試。圖4中虛框所包圍的部分是信號處理機的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路。DSP21065L將采集到的數(shù)據(jù)存儲在內(nèi)部存儲區(qū)中,采集完畢后通過DSP仿真系統(tǒng)的JTAG接口將數(shù)據(jù)傳送到PC中,  在Matlab中進行相關(guān)的數(shù)字信號處理,根據(jù)處理結(jié)果對轉(zhuǎn)換電路的轉(zhuǎn)換性能做相應(yīng)的評估分析。根據(jù)所獲得的模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的性能指標,可以分析轉(zhuǎn)換電路對信號處理機的影響。

  圖中AD轉(zhuǎn)換芯片AD9225為12位  ,  轉(zhuǎn)換速率為25MSPS,芯片內(nèi)部帶有采樣保持電路和參考電壓源?;拘阅苋缦拢?/p>

  lSNR71dB(finput=2.5MHz)

  lSINAD 70.7dB(finput=2.5MHz)

  lTHD –82Db(finput=2.5MHz)

    INL:DNL:

  4.1部分測試數(shù)據(jù)

  測試信號為滿幅度正弦波,每次采樣8192點數(shù)據(jù),做8192點FFT,得到采樣數(shù)據(jù)頻譜。在不同的采樣頻率和信號頻率下,分別做5次實驗,取平均值。

  4.2 測試數(shù)據(jù)分析

  12位  的轉(zhuǎn)換電路,其理論信噪比應(yīng)達74dB,而實際測試中只有60~70dB。說明有除量化噪聲之外的別的噪聲源。實驗中發(fā)現(xiàn)如將轉(zhuǎn)換電路中的模擬電源和數(shù)字電源采用同一電源供電,則信噪比要比二者分別供電時減少大約5~6dB。改善接地的狀況也能有效的提高轉(zhuǎn)換動態(tài)性能,例如,在接地情況不佳的情況下5MHz采樣1.54MHz時的信噪比只有59.7dB,而在改善接地狀況后提高到了61.64dB,提高了1.94dB。實驗數(shù)據(jù)顯示諧波失真較為嚴重,我們分析主要原因是信號源純度偏低。測試的結(jié)果接近AD9225技術(shù)手冊給出的參數(shù),這說明了該方法的可信度。從SNR值來看,由于測試針對整個高速模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,得到的結(jié)果反映的是整個電路的動態(tài)轉(zhuǎn)換特性。由于各輔助電路的影響,使得轉(zhuǎn)換電路的性能低于器件手冊給出的參數(shù)。根據(jù)測試結(jié)果分析,對高速模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計提出下列參考意見:

  l轉(zhuǎn)換器件后端與數(shù)據(jù)總線間采用數(shù)據(jù)所鎖存器進行隔離驅(qū)動,以減少后端數(shù)據(jù)總線上的噪聲串入模擬電路,降低轉(zhuǎn)換性能。

  l模擬電源和數(shù)字電源應(yīng)作隔離處理,以減少模擬端的噪聲。

  l選用合適的運放減少諧波失真。

  l模擬輸入信號線應(yīng)盡量寬,減少信號失真。

  l器件選型時。所選器件的轉(zhuǎn)換  應(yīng)高于所需  要求的2個以上有效位數(shù)。

  l所選ADC芯片的轉(zhuǎn)換速率應(yīng)大大高于取樣的速度。

關(guān)鍵詞:高速ADC的動態(tài)性能參數(shù)和基于DSP技術(shù)的測試方法研究ADC,DSP技術(shù)

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