半導體生產(chǎn)商諫早電子(IDC)開發(fā)出漏電檢查用IC「RT8H064C」。

    RT8H064C為實現(xiàn)了使用6PIN小型封裝SC-74作開發(fā)的漏電檢查機能產(chǎn)品。
    可使用在漏電斷路器或漏電保護分接器等等。
    本產(chǎn)品采用0.5波1發(fā)的計算方式, 可使用外置的電容作設定操作時間。
    此外，產(chǎn)品具有鎖存輸出格式，即使只是檢測到漏電，也能保持異常輸出。
    內(nèi)部等價電路, 應用電路圖

    ※□內(nèi)所包括的部份為本產(chǎn)品的電路圖。

    時序圖

    ※當VR端電壓高于IN端電壓時定義為負電壓，低于IN端電壓時定義為正電壓。

    ①IN-VR 波形是連接在IN端子和VR端子之間的電阻器產(chǎn)生的電壓波形。
    由于本產(chǎn)品以負電壓檢測漏電，因此即使施加正電壓也不會運行。
    ②當負電壓超過VT ≈ 8.5mV時，連接到OD/SC引腳的電容開始充電，
    當VT ≈ 8.5mV低于時，電容放電。
    ③當VT ≈ 8.5mV超過Ton時間時，OD/SC引腳的電位超過VSCon ≈ 1.1V，OS引腳輸出高電平，確定檢測到漏電。由于是鎖存輸出格式，所以繼續(xù)保持高輸出。此外，可以通過再次打開電源來釋放閂鎖。
    Ton由OD/SC引腳的充電電流ITD1、閾值電壓VSCon和連接電容C1決定。
    *Ton計算公式：Ton=-C1×VSCon/ITD1
    [示例：Typ値VSCon=1.1V，ITD=-21uA，C1=0.047uA時，Ton=2.46ms]

    電力的特性表（Ta=25℃）

    外形圖（單位：mm）

    諫早電子其他漏電檢出用IC的比較