具有單片 CMOS 讀出功能的晶圓級(jí) GFET 生物傳感器陣列
出處:維庫電子市場網(wǎng) 發(fā)布于:2023-11-10 16:36:47
FET是與 CMOS 等技術(shù)一起用于多分析物檢測的基本生物傳感器。不同的基于 FET 的技術(shù),例如碳納米管 FET (CNTFET)、離子選擇性 FET (ISFET)、擴(kuò)展柵極 FET (EGFET) 和薄膜體聲波諧振器 (FBAR) 以及硅納米線 FET (SiNWFET),均與但CMOS也有一些局限性?!?br> 基于化學(xué)氣相沉積 (CVD) 石墨烯的 GFET 傳感器是目前理想的解決方案,因?yàn)榕c其他傳感器相比,它們經(jīng)濟(jì)、準(zhǔn)確。與 CNTFET 和 SiNWFET 相比,GFET 具有相似的靈敏度,并且更容易制造,使其成為高靈敏度無標(biāo)記生物傳感器的經(jīng)濟(jì)高效的方法。ISFET 和 EGFET 很容易在 CMOS 之上采用標(biāo)準(zhǔn)工藝制造,但它們存在器件穩(wěn)定性和漂移問題。
GFET 的晶圓級(jí) CMOS 集成
用于多分析物檢測的 GFET 集成到 CMOS 多路復(fù)用器平臺(tái)中,可同時(shí)測量數(shù)百個(gè) GFET。采用 0.35μm 模擬工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)行集成的 200mm CMOS 是使用 X-Fab 提供的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)制造的??偣矞y試了 512 個(gè) GFET,可進(jìn)一步擴(kuò)展到 4,096 個(gè)器件。全局?jǐn)?shù)字控制用于通過觸發(fā)像素級(jí)本地 CMOS 開關(guān)來測量 GFET 的電阻讀數(shù)來選擇 GFET。GFET 值的測量是通過在切割晶圓上選擇五個(gè)傳感器芯片來進(jìn)行的。將芯片引線鍵合到芯片載體上以進(jìn)行電氣測量。
圖 2:(a) 帶有引線鍵合在芯片載體上的 CMOS 集成 GFET 的芯片;(b) GFET 的電氣測量配置(Soikkeli 等人,2023 2)
參數(shù)分析儀與芯片上的 CMOS 多路復(fù)用器一起使用,用于器件的測量和偏置。液體柵極電壓 (V g ) 通過使用全局片上 Pt 液體柵極進(jìn)行控制。下圖顯示了在沒有選通的環(huán)境條件下測量的電阻值,以及五個(gè)芯片的測量電阻值的直方圖。每個(gè)芯片的平均電阻值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。
圖3:512個(gè)GFET的電阻值;(b) 五個(gè)芯片測量的電阻直方圖(Soikkeli 等人,2023 2)
GFET 的性能和穩(wěn)定性通過去離子水 (DIW) 中的電氣測量來衡量。GFET 在 DIW 中暴露兩次,以獲得器件的電阻與 V g的函數(shù)關(guān)系。Vg _使用片上 Pt 電極將其應(yīng)用于所有 GFET。結(jié)果顯示狄拉克峰值電壓具有良好的穩(wěn)定性和較低的變化。狄拉克峰值電壓是石墨烯通道電荷中性點(diǎn)的衡量標(biāo)準(zhǔn),低變化表明 GFET 均勻且具有一致的電性能,從而實(shí)現(xiàn)一致的測量,這對(duì)于生物傳感器及其應(yīng)用非常重要。同樣,GFET 也暴露于不同濃度的氯化鈉 (NaCl) 溶液中。這樣做是為了獲得器件的電阻和跨導(dǎo)值,作為每個(gè) NaCl 濃度的柵極電壓的函數(shù)。
測量結(jié)果顯示,由于柵極電容變化引起石墨烯溝道中的摻雜變化,狄拉克峰值電壓位置發(fā)生了偏移。盡管峰值電壓值發(fā)生了變化,但狄拉克峰值處的平均電阻值保持恒定,這表明 GFET 的主要傳感機(jī)制是靜電門控。NaCl 濃度測試后,再次使用 DIW 測試 GFET,以確保器件返回到 DIW 表征中建立的基線。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請(qǐng)必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://udpf.com.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 頻譜儀精準(zhǔn) TOI 測量的設(shè)置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設(shè)備與技術(shù)2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實(shí)用方法2025/8/27 16:31:27