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轉(zhuǎn)貼一個(gè)好貼,絕對(duì)有幫助。。rom edacn

作者:rickyice 欄目:IC設(shè)計(jì)
轉(zhuǎn)貼一個(gè)好貼,絕對(duì)有幫助。。rom edacn
探討一些容易被忽略的數(shù)字電路設(shè)計(jì)要點(diǎn)提要

最近看到論壇上對(duì)fpga的討論越來(lái)越偏重于嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì),在ALTERA論壇上開(kāi)始看到對(duì)nios感興趣的人也越來(lái)越多。然而,過(guò)分傾向于sopc與dsp builder的應(yīng)用畢竟不是很好的學(xué)習(xí)方法。要知道,這些都是一種實(shí)現(xiàn)工具,而實(shí)現(xiàn)的構(gòu)思則源于邏輯算法的創(chuàng)造與模仿。在這論點(diǎn)上,硬件描述語(yǔ)言為我們提供一個(gè)很好的管道,來(lái)表達(dá)我們理想的數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)。至于從硬件描述語(yǔ)言到門級(jí)電路的轉(zhuǎn)換,則得依靠于合成工具,對(duì)各種不同的描述方式提供相對(duì)應(yīng)的門級(jí)電路模式。愈精確的描述,才能產(chǎn)生更接近于理想的數(shù)字系統(tǒng),因此一個(gè)有異于軟件編程的論點(diǎn)出現(xiàn)了,行數(shù)越多的設(shè)計(jì)描述,有時(shí)反而讓門級(jí)電路更為精簡(jiǎn)。至此,門級(jí)電路在可編程邏輯里的實(shí)現(xiàn)這關(guān)鍵部分得完全依賴于工具來(lái)完成。我們知道時(shí)序的吻合將決定一個(gè)數(shù)字系統(tǒng)的可行性,因此除了精確的硬件描述之外,正確的添加約束可有效的提高數(shù)字系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)可能性。當(dāng)我們?cè)贋樯钊氲淖鏊伎迹酒c芯片的時(shí)序如何達(dá)到吻合,電路板在什么操作頻率上應(yīng)該把傳輸線特性作為考究,fan-out與gound bounce的關(guān)系應(yīng)該如何做考慮,trancient current所造成的vcc bounce應(yīng)該如何解決,這幾點(diǎn)都是作為一個(gè)數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)師應(yīng)該有充分了解的。EDA專業(yè)論壇9R
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dcI'hA@]EDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|board我們先來(lái)探討fan-out與ground bounce的關(guān)系。一般上,我們知道fan-out不能過(guò)多,不然會(huì)造成不良后果。至于是什么不良后果,一般的解釋對(duì)初學(xué)者來(lái)說(shuō)都不是很明確,甚至有點(diǎn)模糊。我們就從fan-out開(kāi)始做解釋。當(dāng)一個(gè)MODULE的fan-out越大,舉例(n MB x 1) Vs (m MB x 8)的記憶體來(lái)說(shuō),chip的用量也相對(duì)減少,因此耗電量也較小。然而,fan-out越大,也代表著同時(shí)操作的OUTPUT pin也隨著增大。在數(shù)字設(shè)計(jì)里,每個(gè)OUTPUT pin對(duì)0的驅(qū)動(dòng)就是通過(guò)自身的GND pin來(lái)做current sink。我們知道每個(gè)pin都有相應(yīng)的電感值,而自感就是因應(yīng)于電流所產(chǎn)生的。因?yàn)閂=L(di/dt),所以當(dāng)fan-out增大,(di/dt)也隨著增大;當(dāng)頻率變得越高,(di/dt)也變得更大了。因自感而引起的電壓差(V)就造成所謂的ground-bounce。對(duì)邏輯0來(lái)說(shuō),它的區(qū)分值是0 - 0.4V左右,因此它的noise margin也比邏輯1來(lái)得小。因此,因自感而引起的ground-bouce效應(yīng)是非常被重視的。至于如何能在fan-out的數(shù)量與ground-bounce的控制之間取得平衡點(diǎn),對(duì)于一個(gè)數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)師來(lái)說(shuō),這是不可漠視的。
l        y~!jLh&a;q——最大最專業(yè)FPGA/IC設(shè)計(jì)論壇(FPGA設(shè)計(jì)|IC設(shè)計(jì)|仿真|綜合|ALTERA|Quartus|Maxplus|XILINX|ISE|LATTICE|Synplify|Modelsim)EDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|boardB|+s X1q0{4B o
至于VCC bounce,這則是transcient current所引起的。何謂transcient current?就是邏輯1與邏輯0的轉(zhuǎn)換瞬間,電流從VCC通過(guò)Q1與Q2直接傳入GND,所引起的瞬間電流增大值。Q1與Q2就是控制邏輯1與邏輯0輸出的switching TRANSISTOR;當(dāng)輸出為邏輯1,Q1為ON,Q2為OFF;當(dāng)輸出為邏輯0,Q1為OFF,Q2為ON。我們知道每個(gè)pin都存在相應(yīng)的電感值,而這瞬間的transcient current就是造成V(di/dt)忽然增高的主要原因,這就是所謂的VCC bounce。一般上,在高速設(shè)計(jì)里,VCC bounce所造成的負(fù)面影響不比ground bounce那般嚴(yán)重,然而它對(duì)信號(hào)完整性設(shè)計(jì)的影響是不容忽視的;蛟S有人會(huì)問(wèn),為什么VCC bounce會(huì)對(duì)高速設(shè)計(jì)有較微的負(fù)面影響呢?原因很簡(jiǎn)單,就是邏輯1的noise margin比起邏輯0來(lái)得高,因此對(duì)信號(hào)的bouncing值有較大的寬容性。我們所熟悉的decoupling CAPACITOR就是針對(duì)于transcient current所做的解決方案。好了,現(xiàn)在transcient current解決了,然而,在邏輯芯片數(shù)量較多的數(shù)字系統(tǒng)里,為數(shù)不小的transcient current相加起來(lái)對(duì)電源又會(huì)造成什么程度的影響呢?這我就留在下一篇文章再詳細(xì)敘述了。對(duì)有興趣深入研究的朋友,我在這里先給個(gè)提示,就是你們留意電源輸出是不是有一個(gè)480uF - 2200UFCAPACITOR是直接連去GND的。EDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|board        XC;F        YRR        kw

H3{e lN        Tq9N/B補(bǔ)充于21-10-2005:
$l0\-?8a:Z;y8qEDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|board在一般情況下,ground bounce對(duì)邏輯的影響會(huì)比vcc bounce來(lái)得大,這是因?yàn)閭(gè)別noise margin的不同而造成的。還有,所謂的邏輯影響不是單純的邏輯錯(cuò)誤那么簡(jiǎn)單,在某些個(gè)別情況,邏輯電平往往進(jìn)入無(wú)法分辨為1或0的情況,這跟metastability的情形有點(diǎn)類似,然而,其分別在于metastability是隨著clock cycle以觸發(fā)沿為界限而恢復(fù)邏輯電平,而ground bounce所造成的情況則是有點(diǎn)"asynchronous"的意味。不論如何,這兩種情況都對(duì)邏輯,尤其是組合邏輯設(shè)計(jì)造成一定的影響。
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更新于29-10-2005:EDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|board3K`@U0`&N

d;I&Y0Z4n#y3m5u之前,我們只考慮了基于電感特性所造成的bouncing情況。然而,在實(shí)際上還有幾點(diǎn)比如電容特性也是在高速設(shè)計(jì)里需要有所留意的。我們知道,在基于對(duì)傳輸線特性的考究,每個(gè)芯片的管腳除了帶有電感值之外,還帶有電容值。因?yàn)椴季的差距,所以每個(gè)管腳都有不同的電感與電容值。然而,最短的傳輸線都是比其他較長(zhǎng)的擁有較低的電感與電容值的,而這所謂最短的傳輸線,通常就是處于芯片中心兩旁的管腳。因此,我們一般上都會(huì)看到高速數(shù)字芯片的VCC和GND都是在芯片中心處的兩旁,而一般低速數(shù)字芯片的VCC和GND就處于芯片的對(duì)角線,這是很不利于高速數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。除此之外,我們之前所提到的關(guān)于fan-out的數(shù)量不能太多,不然會(huì)造成ground bounce,那只是基于對(duì)電感的考慮;如果再加入對(duì)電容的考慮,那就是造成額外delay time的原因。要知道,fan-out的數(shù)量越大,就代表電容并聯(lián)的數(shù)量越多,因此整體的電容有效值也跟著增大。一般上,我們考慮每100 pF會(huì)造成3 ns的delay,不過(guò),不同的制造技術(shù)會(huì)令這數(shù)值有所改變。對(duì)于搞fpga設(shè)計(jì)的人來(lái)說(shuō),在做static timing分析的時(shí)候,都會(huì)留意到fan-out數(shù)量較多的地方,因應(yīng)的delay time也會(huì)較大,這就是造成這現(xiàn)象的原因。對(duì)于這現(xiàn)象的解決方案是:在基于電路板的系統(tǒng)上,除了考慮合適的布線,在適當(dāng)?shù)牡胤郊由线m當(dāng)數(shù)量的buffer可以有效的減低電容值;在基于fpga的系統(tǒng)上,除了盡量減低與平均分布fan-out的數(shù)量之外,得考慮在synthesis時(shí)加上LOGIC duplication。
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Q|%hAL,W更新于21-11-2005:
S-]6X?"g,M$En+WEDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|boardJK4t;d/D:h        I
地彈效應(yīng)是因由電感而產(chǎn)生的,電容所造成的主要效應(yīng)是延時(shí)。地彈效應(yīng)的發(fā)生是源于Simultaneously Switching Outputs (SSO)對(duì)管腳電感的瞬間變化所引起的。一般上,不同的芯片都有提供對(duì)于每個(gè)VCC與GND組最大SSO的參考數(shù)字,只要在做設(shè)計(jì)時(shí)確定不高于SSO,而在設(shè)計(jì)板子時(shí)也謹(jǐn)守高速設(shè)計(jì)的規(guī)則,都不會(huì)造成太大的問(wèn)題。在fpga設(shè)計(jì)上,除了謹(jǐn)慎留意fan-out的數(shù)量外,在設(shè)定 i/o slew rate 的時(shí)候也不能盲目的把 slow 都設(shè)定成 FAST,須知這會(huì)增加 di/dt,地彈效應(yīng)也相應(yīng)增加了。除此之外,需知FAST i/o slew rate對(duì)PURE resistive load不會(huì)有太大的改進(jìn),其主要用處是減低capacitive load (電容性負(fù)載) 所造成的延時(shí)效應(yīng)。最后,還是老生常談,緊記電感是因由電流產(chǎn)生的,電容是因由電壓產(chǎn)生的。
C!R4s#|LuTEDA中國(guó)門戶網(wǎng)站-FPGA|CPLD|EDA|IC|ALTERA|LATTICE|XILINX|Modelsim|Synplify|Quartus|ispLever|ISE|Simulation|HDL|edacn|eda先鋒|FORUM|bbs|board        {4N#m,]_x6Ky
更新于03-12-2005:EDA專業(yè)論壇p8gk m ZRy4H

6CK*["L+S_1B`www.edacn.net在高速設(shè)計(jì)的領(lǐng)域里,對(duì)電氣的物理特性有充分了解是很大程度必須要掌握的。有時(shí)在設(shè)計(jì)上面對(duì)問(wèn)題,不能只單純的從傳統(tǒng)調(diào)試方式去解決問(wèn)題。比方說(shuō),如果一個(gè)多路數(shù)字音頻傳輸設(shè)計(jì)不斷面臨噪音的問(wèn)題,癥結(jié)不一定就出自接地不完好這一論點(diǎn)上。如果仿真和測(cè)試都沒(méi)有找出什么問(wèn)題,就應(yīng)該往其他方面的可能性去尋求出路,比如想想是不是coupling出了什么問(wèn)題。一般上,如果AC coupling的電容值和傳輸信號(hào)的run-length不協(xié)調(diào),往往這就是問(wèn)題所在,而不關(guān)系乎于接地不良好,而導(dǎo)致噪音不被GND過(guò)濾這一慣性的想法。當(dāng)然,如果有TDR作為調(diào)試條件的,那又另當(dāng)別論。作為后話,如果調(diào)試條件不是很充足的話,比如只有osicilloscope和LOGIC analyzer,在調(diào)試過(guò)程里的盡量發(fā)揮想象力,不能茍泥于慣性的想法。如果有spectrum analyzer和測(cè)試eye-diagram的條件,就得充分了解和利用調(diào)試工具去解決問(wèn)題。在很多情況里,基于deterministic ji
2樓: >>參與討論
rickyice
re
贊!

3樓: >>參與討論
xyysun
re
不錯(cuò),頂

4樓: >>參與討論
mosan
個(gè)人感覺(jué)
沒(méi)仔細(xì)看,但覺(jué)得有些概念事實(shí)而非。

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sheepyang
不作數(shù)字
看不懂,但還是要頂
IC設(shè)計(jì)的人氣不旺。

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