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Silicon NPN Power Transistors
ISC [Inchange Semiconductor Company Limited]
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Bipolar NPN Device in a Hermetically...
SEME-LAB
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Bipolar NPN Device in a Hermetically...
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影響測量精度,而且每次復(fù)位后at73c500都要重新讀入校準數(shù)據(jù),如果at73c500使用微處理器模式,導(dǎo)入校準數(shù)據(jù)的握手協(xié)議過于復(fù)雜,需要單片機軟件干預(yù);因此從可靠性角度考慮,at73c500被設(shè)置成eeprom模式,將校準數(shù)據(jù)從eeprom at93c46中讀出,同時,單片機也能對at93c46內(nèi)的校準數(shù)據(jù)讀寫。 前端測量電路工作流程:上電復(fù)位后,單片機對at73c500復(fù)位,然后at73c500進行初始化工作。首先將rd/wr寫高,狀態(tài)/模式總線上的四個三態(tài)門被選通,at73c500通過bus12至bus15讀入模式信息。在判斷工作模式為eeprom模式后,at73c500向狀態(tài)/模式總線的最低位(bus8)寫低電平,經(jīng)邏輯譯碼電路(gal20v8)后產(chǎn)生初始化信號cs1。cs1信號選通串行eeprom at93c46,at73c500讀出存儲在at93c46中的校準數(shù)據(jù)。校準數(shù)據(jù)讀出以后,at73c500向bus8寫高電平,經(jīng)鎖存后cs1變成高電平,初始化階段結(jié)束,測量單元開始正常的測量工作。at73c501開始通過同步串行總線向at73c500傳送采樣結(jié)果。 at73c500的計算
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