P溝道MOSFET的基本概念及主要類型
出處:廠商供稿 發(fā)布于:2022-09-23 16:49:25
同樣,增強(qiáng)型MOSFET分為P溝道增強(qiáng)型和N溝道增強(qiáng)型,耗盡型MOSFET分為P溝道耗盡型和N溝道耗盡型。在本文中,小編將介紹其中一種類型的MOSFET,即P溝道MOSFET。
基本概念
溝道由大多數(shù)電荷載流子作為空穴組成的一種MOSFET稱為P溝道MOSFET。一旦這個(gè)MOSFET被激活,那么大多數(shù)電荷載流子(如空穴)將在整個(gè)通道中移動(dòng)。
P溝道MOSFET與N溝道MOSFET不同,因?yàn)樵贜 MOSFET中,大部分電荷載流子是電子。增強(qiáng)模式和耗盡模式下的P溝道MOSFET符號(hào)如下圖所示:
	  
工作原理
P溝道MOSFET中的大多數(shù)電荷載流子是空穴,與N溝道MOSFET中使用的電子相比,這些電荷載流子的遷移率較低。P溝道和N溝道MOSFET之間的主要區(qū)別在于,在P溝道中,需要從Vgs(柵極端子到源極)的負(fù)電壓來激活MOSFET,而在N溝道中,它需要正VGS電壓。因此,這使得P溝道型MOSFET成為高端開關(guān)的完美選擇。
每當(dāng)在P溝道MOSFET的柵極端施加負(fù) (-) 電壓時(shí),氧化物層下方可用的電荷載流子(如電子)就會(huì)被向下推入襯底,空穴占據(jù)的耗盡區(qū)與施主原子相連。因此,負(fù) (-) 柵極電壓會(huì)將空穴從漏極區(qū)域和p+源極吸引到溝道區(qū)域。
主要類型
目前有兩種類型的P溝道MOSFET可用,即P溝道增強(qiáng)型MOSFET和P溝道耗盡型MOSFET。
1、P溝道增強(qiáng)型MOSFET
P溝道增強(qiáng)型MOSFET采用輕摻雜N襯底進(jìn)行簡(jiǎn)單設(shè)計(jì)。在這里,兩種重?fù)诫s的P型材料通過一定溝道長度分開,薄二氧化硅層沉積在通常稱為介電層的基板上。在P溝道增強(qiáng)型MOSFET中,兩種P型材料形成源極 (S) 和漏極 (D),鋁用作電介質(zhì)上的鍍層以形成柵極 (G) 端子。其中,MOSFET的源極和主體簡(jiǎn)單地連接到 GND。
	  
當(dāng)在漏極端子施加負(fù)電壓時(shí),漏極區(qū)域內(nèi)的負(fù)電壓減小,柵極和漏極之間的電壓差減小,因此,導(dǎo)電溝道寬度向漏極區(qū)域減小,電流從源極供應(yīng)到漏極。
MOSFET內(nèi)形成的溝道對(duì)從源極到漏極的電流提供阻力,并且溝通的橫截面取決于施加在柵極端子上的負(fù)電壓。因此,從源極流向漏極的電流可以通過施加在柵極端子上的電壓來控制,所以MOSFET被稱為電壓控制器件。當(dāng)空穴濃度形成溝道時(shí),由于負(fù)柵極電壓的增加,整個(gè)溝道的電流得到改善,因此這被稱為 P溝道增強(qiáng)型MOSFET。
2、P溝道耗盡型MOSFET
P溝道耗盡型MOSFET結(jié)構(gòu)與N溝道耗盡型MOSFET相反。由于其中存在可用的P型雜質(zhì),因此該MOSFET中的通道是預(yù)先構(gòu)建的。一旦在柵極端施加負(fù) (-) 電壓,N型中的少數(shù)電荷載流子(如電子)就會(huì)被吸引到P型溝道。在這種情況下,一旦漏極反向偏置,則器件開始導(dǎo)通,盡管當(dāng)漏極內(nèi)的負(fù)電壓增強(qiáng)時(shí),會(huì)導(dǎo)致耗盡層形成。
	  
應(yīng)用電路
用于控制電機(jī)的互補(bǔ)MOSFET開關(guān)電路如下所示。該開關(guān)電路使用兩個(gè)MOSFET(如P通道和N通道)來雙向控制電機(jī)。在該電路中,這兩個(gè)MOSFET通過連接在公共漏極和參考GND之間的電機(jī),使用雙電源簡(jiǎn)單地連接以生成雙向開關(guān)。
	 
類似地,當(dāng)輸入為高電平時(shí),N溝道MOSFET導(dǎo)通而P溝道器件關(guān)斷,因?yàn)槠鋿艠O到源極結(jié)為正偏置?,F(xiàn)在電機(jī)反向轉(zhuǎn)動(dòng),因?yàn)楫?dāng)通過-VDD電源軌供電時(shí),電機(jī)的端子電壓已經(jīng)反轉(zhuǎn)。
之后,對(duì)于電機(jī)的正向,P溝道型MOSFET用于切換電機(jī)的+ve電源,而對(duì)于反向,N溝道MOSFET用于將-ve電源切換到電機(jī)馬達(dá)。
當(dāng)兩個(gè)MOSFET都關(guān)閉時(shí),電機(jī)將停止工作。
當(dāng)MOSFET1開啟時(shí),MOSFET2關(guān)閉,然后電機(jī)正向運(yùn)行。
當(dāng)MOSFET1關(guān)閉時(shí),MOSFET2開啟,然后電機(jī)反向運(yùn)行。
測(cè)試方法
可以使用數(shù)字萬用表按照以下步驟對(duì)P溝道MOSFET進(jìn)行測(cè)試。
首先,需要將萬用表設(shè)置為二極管量程。
將MOSFET放在任何木桌上,使其印刷面朝向自己。
通過使用數(shù)字萬用表的探針,將MOSFET的漏極和柵極短接,首先讓器件內(nèi)部的電容放電,在MOSFET的測(cè)試過程中是非常必要的。
現(xiàn)在將萬用表的紅色探針放在源極端子上,將黑色探針放在漏極端子上。
這時(shí)候?qū)⒃谌f用表顯示屏上獲得開路讀數(shù)。
之后,在不改變MOSFET源極端子的紅色探針的情況下,從漏極端子取下黑色探針并將其放在MOSFET的柵極端子上幾秒鐘,然后將其放回MOSFET 的漏極端子。
此時(shí),萬用表會(huì)在萬用表顯示屏上顯示低值或連續(xù)值。
通過上述步驟,將驗(yàn)證MOSFET是否正常且沒有任何問題。任何其它類型的讀數(shù)都將表示是有缺陷的MOSFET。
故障模式
即使有良好的設(shè)計(jì)、的組件和新的電機(jī),MOSFET故障也會(huì)經(jīng)常發(fā)生,原因多種多樣。通常情況下,MOSFET非常堅(jiān)固——但是,由于超出額定值,它們可能會(huì)很快失效。這里將簡(jiǎn)單介紹MOSFET的一些主要故障模式以及如何避免它們。
找出MOSFET內(nèi)部發(fā)生的故障是非常困難的,因?yàn)椴恢谰烤故悄睦锇l(fā)生了什么故障。在這里,簡(jiǎn)單列出了MOSFET中發(fā)生的一些常見故障模式。
每當(dāng)通過MOSFET提供高電流時(shí),它就會(huì)變熱。散熱不良也會(huì)因極端溫度而損壞MOSFET。
電池故障。
雪崩失敗。
dV/dt故障。
電機(jī)阻塞或卡住。
快速加速或減速。
功耗過大。
過電流。
負(fù)載短路
卡有異物。
主要特點(diǎn)
P溝道MOSFET的主要特點(diǎn)包括:
它是電壓控制器件。
具有高輸入阻抗值。
在P溝道中,溝道的導(dǎo)電性是由于柵極端的負(fù)極性。
與N溝道相比,P溝道MOSFET特性基本都差不多,但的區(qū)別是極性不同,因?yàn)檫@襯底值是不一樣的。
優(yōu)缺點(diǎn)
P溝道MOSFET的優(yōu)點(diǎn)包括以下幾點(diǎn)內(nèi)容:
設(shè)計(jì)非常簡(jiǎn)單,因此適用于空間受限的地方,例如低壓驅(qū)動(dòng)器和非隔離POL應(yīng)用。
這是高端開關(guān)位置內(nèi)的簡(jiǎn)化柵極驅(qū)動(dòng)方法,可以降低總體成本。
在低電壓下工作時(shí),MOSFET提供的效率更高。
與JFET相比,MOSFET具有高輸入阻抗。
由于溝道電阻較小,它們具有較高的漏極電阻。
制造起來非常簡(jiǎn)單。
與JFET相比,它支持高速操作。
P溝道MOSFET的缺點(diǎn)包括以下幾點(diǎn)內(nèi)容:
MOSFET的薄氧化層會(huì)使其在受到靜電荷感應(yīng)時(shí)容易受到損壞。
當(dāng)使用高電壓時(shí),可能會(huì)導(dǎo)致不穩(wěn)定。
總結(jié)
簡(jiǎn)單來說,P溝道MOSFET就是溝道由大多數(shù)電荷載流子作為空穴組成的一種類型MOSFET。由于P溝道MOSFET的空穴遷移率低,因而在幾何尺寸和工作電壓相等的情況下,P溝道MOSFET的跨導(dǎo)小于N溝道MOSFET。此外,P溝道MOSFET閾值電壓的一般偏高,所以要求有較高的工作電壓。
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