安捷倫科技推出世界上速度最快擁有毫不折衷的缺陷覆蓋率的三維在線自動(dòng)X射線檢測(cè)方案

安捷倫科技公司發(fā)布一款突破性的可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維x射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫medalist x6000 axi降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在領(lǐng)導(dǎo)市場(chǎng)的三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上，并且是使用100％三維來檢測(cè)缺陷。 “安捷倫medalist 5dx系統(tǒng)一直是三維x射線檢測(cè)技術(shù)的事實(shí)標(biāo)準(zhǔn)，目前安裝的系統(tǒng)已經(jīng)超過800套?！卑步輦恆xi市場(chǎng)經(jīng)理kent dinkel說，“下一代medalist x6000利用安捷倫在x射線領(lǐng)域中擁有的專業(yè)知識(shí)，為當(dāng)前復(fù)雜的pcba提供了所需的毫不折衷的三維測(cè)試速度和缺陷檢測(cè)能力?！?medalist x6000提供了更高的測(cè)試速度，有兩個(gè)明顯益處。第一，它直接減少了滿足制造批量所需的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量，使所需的資本開支縮減了一半。第二，它可以以在線速度對(duì)整個(gè)pcba執(zhí)行完全三維檢測(cè)，以提供最高的缺陷檢測(cè)可能.功能。 過去，高測(cè)試速度二維檢測(cè)解決方案的應(yīng)用范圍一直非常有限，被測(cè)pcba主要是單面電路板。但是，當(dāng)前和未來的雙面pcba要求完善的三維檢測(cè)功能，以便用戶可以區(qū)分焊點(diǎn)

安捷倫推出三維在線自動(dòng)X射線檢測(cè)方案

安捷倫發(fā)布一款突破性的可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維x射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫medalist x6000 axi降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在領(lǐng)導(dǎo)市場(chǎng)的三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上，并且是使用100％三維來檢測(cè)缺陷。 “安捷倫medalist 5dx系統(tǒng)一直是三維x射線檢測(cè)技術(shù)的事實(shí)標(biāo)準(zhǔn)，目前安裝的系統(tǒng)已經(jīng)超過800套?！卑步輦恆xi市場(chǎng)經(jīng)理kent dinkel說，“下一代medalist x6000利用安捷倫在x射線領(lǐng)域中擁有的專業(yè)知識(shí)，為當(dāng)前復(fù)雜的pcba提供了所需的毫不折衷的三維測(cè)試速度和缺陷檢測(cè)能力?！?medalist x6000提供了更高的測(cè)試速度，有兩個(gè)明顯益處。第一，它直接減少了滿足制造批量所需的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量，使所需的資本開支縮減了一半。第二，它可以以在線速度對(duì)整個(gè)pcba執(zhí)行完全三維檢測(cè)，以提供最高的缺陷檢測(cè)可能.功能。 過去，高測(cè)試速度二維檢測(cè)解決方案的應(yīng)用范圍一直非常有限，被測(cè)pcba主要是單面電路板。但是，當(dāng)前和未來的雙面pcba要求完善的三維檢測(cè)功能，以便用戶可以區(qū)分焊 點(diǎn)密

安捷倫推出在線三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)Medalist x6000

安捷倫科技公司(agilent)日前發(fā)布一款可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維x射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫medalist x6000 axi降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上，并且是使用100%三維來檢測(cè)缺陷。 medalist x6000提供了更高的測(cè)試速度，有兩個(gè)明顯益處。第一，它直接減少了滿足制造批量所需的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量，使所需的資本開支縮減了一半。第二，它可以以在線速度對(duì)整個(gè)pcba執(zhí)行完全三維檢測(cè)，以提供最高的缺陷檢測(cè)功能。 另外，medalist x6000還可以減少外包領(lǐng)域中人員流動(dòng)率高而導(dǎo)致的實(shí)施障礙。由于編程知識(shí)傳遞的非持續(xù)性，這種人員的流動(dòng)會(huì)極大地妨礙高質(zhì)量程序的開發(fā)。medalist x6000提供了一個(gè)新型開發(fā)環(huán)境，擁有多種自動(dòng)編程功能，可以幫助新用戶開發(fā)高質(zhì)量覆蓋率的程序，而所需的時(shí)間卻只有過去的一半，從而有助于解決上述問題。 來源:小草

安捷倫推出在線三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)Medalist x6000

安捷倫科技公司(Agilent)日前發(fā)布一款可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫Medalist x6000 AXI降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上...

X60003DIG3-50T1的技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):X60003DIG3-50T1
輸入電壓(V):5.1~9.0
輸出電壓(V):5
初始精度:±5.0mV
溫度漂移:20ppm/℃
工作電流:500nA
封裝/溫度(℃):SOT23/-40~85
價(jià)格/1片(套):￥10.98


  來源:X60003CIG3-50T1的技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):X60003CIG3-50T1
輸入電壓(V):5.1~9.0
輸出電壓(V):5
初始精度:±2.5mV
溫度漂移:20ppm/℃
工作電流:500nA
封裝/溫度(℃):SOT23/-40~85
價(jià)格/1片(套):￥12.98


  來源:X60008EIS8-50的技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):X60008EIS8-50
輸入電壓(V):5.1~9.0
輸出電壓(V):5
初始精度:±5.0mV
溫度漂移:20ppm/℃
工作電流:500nA
封裝/溫度(℃):SOIC8/-40~85
價(jià)格/1片(套):￥12.98


  來源:X60008DIS8-50的技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):X60008DIS8-50
輸入電壓(V):5.1~9.0
輸出電壓(V):5
初始精度:±1.0mV
溫度漂移:10ppm/℃
工作電流:500nA
封裝/溫度(℃):SOIC8/-40~85
價(jià)格/1片(套):￥24.98


  來源:

• ICT/AXI漸成主流，降低成本是關(guān)鍵

  需求的方案?！卑步輦惪萍茧娮訙y(cè)量事業(yè)部測(cè)量系統(tǒng)分部副總裁兼總經(jīng)理amir aghdaei表示。當(dāng)然，這還不夠。理想的情況應(yīng)該是，這些測(cè)試系統(tǒng)還能隨著需求的變化不斷進(jìn)行升級(jí)，使得其隨時(shí)都處于“剛好夠用”的狀態(tài)。如果有這樣一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)，那它一定會(huì)受到工程師們的夾道歡迎。 嗅覺敏銳的測(cè)試方案供應(yīng)商早就已經(jīng)洞察到了這一趨勢(shì)，并正在不斷推出新的方案來滿足上述需求。安捷倫科技就在不久前帶來了該公司最新的三款測(cè)試方案，medalist i3070、medalist i1000以及medalist x6000，涵蓋了ict和axi兩大熱門測(cè)試技術(shù)。其中前兩款產(chǎn)品為ict測(cè)試系統(tǒng)，后者則迎合了axi測(cè)試方面的最新需求。其中，medalist i1000就是一款符合“剛好夠用”理念的ict系統(tǒng)。而搭配新的medalist x6000，工程師將能夠?qū)崿F(xiàn)更快更全面的電路板缺陷檢測(cè)。 剛好夠用的lct檢測(cè) “市場(chǎng)與研發(fā)的全球化正在令系統(tǒng)制造商遇到越來越多的難解之題?！痹谡劦絤edalist i1000時(shí)，aghdaei指出，“如何在新興市場(chǎng)找到經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師、如何利用新技術(shù)推出超越高

• 安捷倫推出三維在線自動(dòng)X射線檢測(cè)方案

  安捷倫發(fā)布一款突破性的可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維x射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫medalist x6000 axi降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在領(lǐng)導(dǎo)市場(chǎng)的三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上，并且是使用100％三維來檢測(cè)缺陷。 “安捷倫medalist 5dx系統(tǒng)一直是三維x射線檢測(cè)技術(shù)的事實(shí)標(biāo)準(zhǔn)，目前安裝的系統(tǒng)已經(jīng)超過800套?！卑步輦恆xi市場(chǎng)經(jīng)理kent dinkel說，“下一代medalist x6000利用安捷倫在x射線領(lǐng)域中擁有的專業(yè)知識(shí)，為當(dāng)前復(fù)雜的pcba提供了所需的毫不折衷的三維測(cè)試速度和缺陷檢測(cè)能力?！?medalist x6000提供了更高的測(cè)試速度，有兩個(gè)明顯益處。第一，它直接減少了滿足制造批量所需的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量，使所需的資本開支縮減了一半。第二，它可以以在線速度對(duì)整個(gè)pcba執(zhí)行完全三維檢測(cè)，以提供最高的缺陷檢測(cè)可能.功能。 過去，高測(cè)試速度二維檢測(cè)解決方案的應(yīng)用范圍一直非常有限，被測(cè)pcba主要是單面電路板。但是，當(dāng)前和未來的雙面pcba要求完善的三維檢測(cè)功能

• 安捷倫推出在線三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)Medalist x6000

  安捷倫科技公司(agilent)日前發(fā)布一款可以有效檢測(cè)印刷電路板組件上焊點(diǎn)和制造組裝缺陷的在線三維x射線檢測(cè)系統(tǒng)。安捷倫medalist x6000 axi降低了客戶的制造轉(zhuǎn)換成本，而不會(huì)降低缺陷檢測(cè)能力。它在三維解決方案基礎(chǔ)上，把測(cè)試速度提高了一倍以上，并且是使用100%三維來檢測(cè)缺陷。 medalist x6000提供了更高的測(cè)試速度，有兩個(gè)明顯益處。第一，它直接減少了滿足制造批量所需的測(cè)試系統(tǒng)數(shù)量，使所需的資本開支縮減了一半。第二，它可以以在線速度對(duì)整個(gè)pcba執(zhí)行完全三維檢測(cè)，以提供最高的缺陷檢測(cè)功能。 另外，medalist x6000還可以減少外包領(lǐng)域中人員流動(dòng)率高而導(dǎo)致的實(shí)施障礙。由于編程知識(shí)傳遞的非持續(xù)性，這種人員的流動(dòng)會(huì)極大地妨礙高質(zhì)量程序的開發(fā)。medalist x6000提供了一個(gè)新型開發(fā)環(huán)境，擁有多種自動(dòng)編程功能，可以幫助新用戶開發(fā)高質(zhì)量覆蓋率的程序，而所需的時(shí)間卻只有過去的一半，從而有助于解決上述問題。