硬件工程師電路測試:經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)大揭秘
出處:網(wǎng)絡(luò)整理 發(fā)布于:2025-07-04 15:23:03 | 149 次閱讀
我自己就曾深受其害。每次完成測試后,由于沒有留存數(shù)據(jù),當(dāng)后續(xù)需要使用這些數(shù)據(jù)時(shí),根本記不清之前的測試情況,只能重新進(jìn)行測試。這種重復(fù)勞動(dòng)不僅浪費(fèi)了大量寶貴的時(shí)間和精力,而且當(dāng)需要回顧過往數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,或者為項(xiàng)目提供數(shù)據(jù)支撐時(shí),卻發(fā)現(xiàn)自己兩手空空,毫無辦法。那種無奈和懊悔的滋味,實(shí)在是難以言表。
為了避免大家重蹈我的覆轍,我強(qiáng)烈建議在測試和驗(yàn)證電路的過程中,一定要及時(shí)保存數(shù)據(jù),并精心制作成詳細(xì)的測試報(bào)告。這樣做有諸多好處。一方面,當(dāng)領(lǐng)導(dǎo)急需相關(guān)數(shù)據(jù)時(shí),你能夠迅速響應(yīng),及時(shí)提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),給領(lǐng)導(dǎo)留下良好的印象。另一方面,在電路需要更新迭代時(shí),可以通過對比歷史數(shù)據(jù),清晰直觀地把握電路性能的變化情況,為電路的優(yōu)化升級提供有力的依據(jù),讓后續(xù)工作更加高效、科學(xué)。
就我個(gè)人而言,制作簡單局部電路測試報(bào)告時(shí),通常會涵蓋以下關(guān)鍵內(nèi)容:


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