|
|||||||||||
| 技術交流 | 電路欣賞 | 工控天地 | 數(shù)字廣電 | 通信技術 | 電源技術 | 測控之家 | EMC技術 | ARM技術 | EDA技術 | PCB技術 | 嵌入式系統(tǒng) 驅動編程 | 集成電路 | 器件替換 | 模擬技術 | 新手園地 | 單 片 機 | DSP技術 | MCU技術 | IC 設計 | IC 產(chǎn)業(yè) | CAN-bus/DeviceNe |
dft 簡介 |
| 作者：rickyice 欄目：IC設計 |
DFT其實是一個很廣泛的范圍，我們做ic設計的人講到dft設計其實也是指其中一個很小的范圍。 首先說，我們?yōu)槭裁匆鰀ft？ 首先要明白一個這樣一個概念，我們做dft主要是為了檢查工藝錯誤，而不是為了檢查芯片本身的設計錯誤。舉一個簡單的例子，有一個2輸入的與門，如果它有工藝錯誤，OUTPUT端不能從0正確的變到1。那么我們就會在它的兩個input端口灌1，1信號，然后檢查它的OUTPUT是不是1,從而判定它有沒有工藝錯誤。那么我們把這個概念推廣到整個芯片的測試，我們?yōu)榱藱z測到芯片每個部分，那么就要反推出input應該灌什么樣的pattern。因為時序電路的特殊性，就引入了SDFF，把時序結果人為的變成“組合邏輯”，這樣我們就能比較方便的通過控制SDFF的input值，達到控制它的OUTPUT值得目的。 接著講講最基本的用mux-dff做的full scan的步驟（用DC做）：我通常會對芯片中的MEMORY做MEMORY bist（包含了bypass電路），做scan chain的時候就通過bypass電路繞過MEMORY。然后用compile -scan 產(chǎn)生一個帶SDFF但沒有形成scan chain的網(wǎng)表（這個步驟中推薦使用rtldrc，把所有的error跟warning修改掉）。然后在這個netlist的基礎上check dft修改掉error跟warning，確認preview dft是你想要的結果，就可以形成scan chain了。 然后用ATPG的tool產(chǎn)生測試pattern，看看覆蓋l率，如果你是到好的生產(chǎn)代工的公司流片那么95%的覆蓋率已經(jīng)足夠了。 補充: DFT的基本概念里,fault at 0,fault at1是基本的. 就是說故障0,故障1, 要測試這些,有很多的算法. |
| 2樓： | >>參與討論 |
| 作者： crazywolf 于 2005/1/13 16:16:00 發(fā)布：
... 95%已經(jīng)很高了，刨去不合格的atpg代碼段那你原始給出的向量可能覆蓋率都要達到 97%了。我覺得覆蓋率的高低取決于不同工具。dc自帶的比syntest高好多。 |
|
| 3樓： | >>參與討論 |
| 作者： tiu 于 2005/1/14 9:15:00 發(fā)布：
感覺syntest比DFT compiler好 比如對雙向端口的處理，syntest會自動處理。DFT compiler好像不行，要自己加上test_mode來控制是輸入還是輸出。 |
|
| 4樓： | >>參與討論 |
| 作者： jiyw 于 2005/1/20 10:57:00 發(fā)布：
GOOD |
|
| 5樓： | >>參與討論 |
| 作者： hitxiong 于 2005/1/20 15:20:00 發(fā)布：
問一下ATPG的問題 如果我不能做SCAN，在不改變電路任何結構的情況下，有沒有工具可以自動生成向量保證較高的覆蓋率，或者有什么方法。(有些輸入是可以控制的，有些輸入是不可以控制的）。 |
|
| 6樓： | >>參與討論 |
| 作者： tiu 于 2005/1/20 18:03:00 發(fā)布：
scan是測制造缺陷的 如果你功能測試覆蓋率高，干嗎非用Scan. 量產(chǎn)采用scan.而且是大電路，不用DFT測不了。 |
|
| 7樓： | >>參與討論 |
| 作者： damonzhao 于 2005/1/21 8:34:00 發(fā)布：
有沒有相關的書籍推薦一下呢 有沒有相關的書籍推薦一下呢 |
|
| 8樓： | >>參與討論 |
| 作者： fei0039 于 2005/1/24 19:10:00 發(fā)布：
請問哪兒可以搞到DFT compiler的相關文檔？？ |
|
| 9樓： | >>參與討論 |
| 作者： wqi1012 于 2005/1/24 19:26:00 發(fā)布：
sold 就有 synopsys的sold里就有關于dft compiler的資料 |
|
| 10樓： | >>參與討論 |
| 作者： pillar_g_m 于 2005/2/23 10:59:00 發(fā)布：
to hitxiong 加scan的是時序電路和memery,組合電路是沒有的 所以加不加scan看你的電路設計了，如果是純組合電路就不能加scan,能否達高的測試覆蓋率看你的設計了，看你設計電路中所有節(jié)點的可觀察性和可控制性； 而時序電路小的電路（大量dff組成的環(huán)路是否有交疊及交疊的多少區(qū)分大�。┯械牟患觭can就可以達到高的覆蓋率； 很長時間沒接觸dft了，有不準確的地方請指正！ |
|
| 11樓： | >>參與討論 |
| 作者： pillar_g_m 于 2005/2/23 11:33:00 發(fā)布：
補充 DFT的基本概念里,fault at 0,fault at1是基本的. 就是說故障0,故障1 可觀察性和可控制性，完全理解了這四個個該念，可以基本理解為什么要有dft和怎樣dft |
|
| 12樓： | >>參與討論 |
| 作者： boris 于 2005/2/24 15:17:00 發(fā)布：
DFT研究的工藝缺陷有很多種 我所知道的就包括： 針對邏輯電路的缺陷有： stuck-at-0 fault / stuck-at-1 fault transistor-level open fault / gate-level open fault SHORT fault / bridging fault 針對MEMORY的缺陷有： stuck-at fault transition fault address DECODER fault coupling fault neighbor-hood pattern sensitive fault |
|
| 13樓： | >>參與討論 |
| 作者： pillar_g_m 于 2005/2/24 16:25:00 發(fā)布：
有多種算法 好像現(xiàn)在成熟的算法，大多大多是利用stuck-at-0 fault / stuck-at-1 ，而且其他的故障都可以轉化成stuck-at-0 fault / stuck-at-1 |
|
| 14樓： | >>參與討論 |
| 作者： hqx325 于 2005/2/25 19:48:00 發(fā)布：
深奧啊！ |
|
| 15樓： | >>參與討論 |
| 作者： djha 于 2005/2/25 21:30:00 發(fā)布：
不懂！ |
|
| 16樓： | >>參與討論 |
| 作者： boris 于 2005/2/26 15:16:00 發(fā)布：
to pillar_g_m 相對于其它的缺陷，stuck-at fault比較好分析。不過現(xiàn)在的DFT算法發(fā)展得還算是比較成熟了，很多算法都不局限于stuck-at fault。例如針對MEMORY的BIST算法，一般都會考慮相鄰存儲單元內的值是否會相互受影響。 另外，其它故障并不能轉化為stuck-at fault。例如，與非門的兩個輸入短路了，即不是stuck-at-0，也不是stuck-at-1。其實，僅僅從概念上來說，把stuck-at fault歸類到SHORT fault也說得通（信號線與電源或地短路了）。但由于stuck-at fault的出現(xiàn)概率比其它SHORT fault大得多，且算法上有明顯差別，所以我們都把兩者分開來研究。 |
|
| 17樓： | >>參與討論 |
| 作者： pillar_g_m 于 2005/3/4 15:53:00 發(fā)布：
謝謝boris |
|
| 18樓： | >>參與討論 |
| 作者： honeir 于 2005/3/4 18:59:00 發(fā)布：
樓主講的很好，謝謝！ 樓主講的很好，謝謝！ |
|
| 19樓： | >>參與討論 |
| 作者： tviawang 于 2005/3/7 15:42:00 發(fā)布：
不厚道 呵呵，樓主，轉貼我以前寫的帖子也不注明“轉貼”，這樣太不厚道了吧。 |
|
| 20樓： | >>參與討論 |
| 作者： bluegge 于 2005/3/7 17:50:00 發(fā)布：
我就是說感覺那么熟悉，樓主簡直太wocuo了巴。 把我網(wǎng)站的東西發(fā)這里，也不寫個轉載。。。 |
|
| 21樓： | >>參與討論 |
| 作者： bluegge 于 2005/3/7 17:52:00 發(fā)布：
樓主請自己出來給別人道歉！�。。�！ |
|
| 22樓： | >>參與討論 |
| 作者： rickyice 于 2005/3/8 16:28:00 發(fā)布：
bluegge， 由于事忙，忘寫轉載，請見諒 |
|
| 23樓： | >>參與討論 |
| 作者： rickyice 于 2005/3/9 13:13:00 發(fā)布：
轉載忘寫了,對不住!bluegge |
|
| 24樓： | >>參與討論 |
| 作者： bluegge 于 2005/3/9 21:15:00 發(fā)布：
這不是我寫的,是tviawang寫的.不是同一人 我只是幫他吼吼, 也是希望大家多原創(chuàng)... |
|
|
|
| 免費注冊為維庫電子開發(fā)網(wǎng)會員，參與電子工程師社區(qū)討論，點此進入 |
Copyright © 1998-2006 udpf.com.cn 浙ICP證030469號 |